点胶工艺白光数码管的老化特性分析

• 作者: 盛立军
• 来源期刊: 光电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 光学器件 白光数码管 光通量 寿命
• 年，卷（期）: 2016,（4）
• 所属期刊栏目: 研究与试制
• 页码范围: 279-282
• 页数: 4页
• 分类号: TN104.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.19453/j.cnki.1005-488x.2016.04.014

摘要

利用温度应力加速寿命方法,测试点胶工艺白光数码管在80℃和100℃下的老化特性.实验数据表明,数码管工作一段时间后,光通量会有约1％的增量,究其原因可能为蓝光芯片和荧光粉性能在光电转换激励下,性能有提升所致.在80℃老化实验环境下,数码管红色比重增长了5.8％,蓝光光子所占比例下降了26.1％,说明白光数码管主峰随着老化时间的变化在向长波方向缓慢移动.最后利用Arrhenius关系预算出实验样品在常温工作下的平均寿命为18000小时.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	盛立军		28	39	3.0	6.0