波长色散X射线荧光光谱法快速测定铂铑合金中铂和铑的含量

• 作者: 李丹 王广西 罗良红 葛良全 赖万昌 陈诚
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 工学
• 关键词: 波长色散X射线荧光光谱法 铂铑合金 基体效应
• 年，卷（期）: 2016,（1）
• 所属期刊栏目: 同步辐射技术及应用
• 页码范围: 010201-1-010201-6
• 页数: 1页
• 分类号: TL99
• 字数: 3097字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11889/j.0253-3219.2016.hjs.39.010201

摘要

采用波长色散X射线荧光(X-ray fluorescence, XRF)光谱法对铂铑合金中Pt和Rh的含量进行测定，建立了一种Pt和Rh的分析测量方法。实验设定波长色散XRF光谱仪激发电压为60 kV、电流为50 mA，采用100mm的黄铜滤光片、间距300mm的准直器、PX10分光晶体和闪烁探测器对Pt的La线和Rh的Ka线进行分析测量；为消除样品杯罩产生的干扰使用直径27 mm的准直器面罩。应用经验系数法对基体效应进行了校正，建立了Pt和Rh的校正曲线，其K值和RMS值（均方根偏差）较小，线性相关性较好。分析结果表明， Pt 和 Rh 的相对误差分别小于0.09%和0.54%，相对标准偏差分别为0.11%和0.17%(n=10)，检出限分别为208mg·g?1和37mg·g?1，该方法能准确可靠地测定铂铑合金中Pt和Rh的含量，单样分析时间仅需74 s。将该方法应用到铂铑合金配制生产过程中，Pt和Rh的测定结果与配方值的相对误差分别小于0.06%和0.20%。在铂铑合金稀释熔炼中，对稀释后样品的Rh含量进行测量，其测量结果与计算值的相对误差低于0.29%。该方法能够满足大批量铂铑合金样品的分析需求，为生产实践提供准确可靠的科学数据。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	葛良全	成都理工大学核技术与自动化工程学院	335	1967	19.0	25.0
2	赖万昌	成都理工大学核技术与自动化工程学院	150	873	15.0	20.0
3	李丹	成都理工大学核技术与自动化工程学院	54	168	7.0	9.0
4	王广西	成都理工大学核技术与自动化工程学院	50	200	8.0	11.0
5	罗良红		3	4	1.0	1.0
6	陈诚	成都理工大学核技术与自动化工程学院	9	11	2.0	2.0