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VLSI可测性设计研究
可测性设计
自动测试生成
扫描设计
边界扫描技术
嵌入式自测试
测试外壳
模拟测试总线
基于Advance PLD Design的PLD设计与仿真
可编程逻辑器件
Advance PLD Design
设计与仿真
VLSI老化筛选试验技术的挑战
老化
筛选
超大规模集成电路
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 Design for manufacturability and reliability in extreme-scaling VLSI
来源期刊 中国科学 学科 工学
关键词 超大规模集成电路 可靠性设计 可制造性 集成电路设计 半导体行业 可靠性问题 长期规划 特征尺寸
年,卷(期) zgkx_2016,(6) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 92-114
页数 23页 分类号 TN47
字数 语种 中文
DOI
五维指标
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引文网络
引文网络
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2016(0)
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研究主题发展历程
节点文献
超大规模集成电路
可靠性设计
可制造性
集成电路设计
半导体行业
可靠性问题
长期规划
特征尺寸
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
中国科学
月刊
CN 11-1789/N
出版文献量(篇)
3119
总下载数(次)
13
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