基于0.1 Hz下tanδ的XLPE电缆绝缘老化状态评估技术

• 作者: 刘英 曹晓珑 王林杰 肖阳 苏宇
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 0.1Hz 老化状态评估 介质损耗因数 XLPE电缆绝缘
• 年，卷（期）: 2016,（5）
• 页码范围: 41-45
• 页数: 5页
• 分类号: TM215|TM835.4
• 语种: 中文
• DOI: 10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2016.05.009

摘要

随着电力电缆行业的持续发展,XLPE电缆绝缘检测技术受到越来越多的关注.对电缆绝缘老化状态的有效评估是当前电气设备管理一个十分重要和必不可少的过程.根据IEEE提出的有关电力电缆绝缘超低频(0.1 Hz)试验标准,提出一种对XLPE电缆绝缘分层取样,测量切片试样在0.1 Hz下的tanδ随外施电压的变化,以电压敏感度来判断绝缘老化程度的方法.通过测量不同运行年限的XLPE电缆绝缘,发现tanδ随外施电压的变化规律可以有效反映出不同运行时间绝缘老化状态的区别,绝缘内、中、外层的tanδ存在差异性.将老化电缆绝缘内层和中层的tanδ以外层tanδ测量值作为基准进行归一化,利用相对值的变化规律作为绝缘老化状态判断依据.实验结果表明,该方法对原始数据缺失的电缆绝缘老化状态评估是一种有效手段.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曹晓珑	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	91	1600	23.0	35.0
2	刘英	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	52	898	14.0	29.0
3	王林杰	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	1	15	1.0	1.0
4	苏宇	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	3	25	3.0	3.0
5	肖阳	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	8	98	5.0	8.0