一起500kV SF6断路器瓷套管爆裂事故的推断和分析

• 作者: 温冰 王琼 荀华 赵建利 辛力坚 顾宇宏
• 来源期刊: 电瓷避雷器
• 关键词: SF6 断路器 瓷套管 机械强度 温度循环试验 “V”形接口
• 年，卷（期）: 2016,（6）
• 所属期刊栏目: 绝缘子
• 页码范围: 45-49
• 页数: 5页
• 语种: 中文
• DOI: 10.16188/j.isa.1003-8337.2016.06.010

摘要

分节瓷套管“V”形接口的机械工艺和釉粘接技术是影响整支瓷套机电性能的关键.经过二次整体烧制的瓷套,需要借助瓷壁耐压试验、温度循环试验、内压负荷试验等试验检验其机电性能.为探究一起500 kV SF6断路器分节瓷套在正常运行情况下爆炸的原因,检测了爆裂瓷套同批次中12支瓷套的机电性能;根据检测试验结果和爆炸事故发生时电气设备保护装置的动作情况,文章推断和分析了该起瓷套爆炸事故的原因,并给出了提高瓷套安全稳定运行的建议.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王琼		24	44	5.0	6.0
2	荀华		26	67	4.0	7.0
3	赵建利		21	33	4.0	4.0
4	温冰		6	2	1.0	1.0
5	辛力坚		13	32	3.0	5.0
6	顾宇宏		7	24	3.0	4.0