基于半导体非均匀内热源的工程求解分析

• 作者: 李彪 潘海俊
• 来源期刊: 光学与光电技术
• 学科: 工学
• 关键词: 半导体制冷 非均匀内热源 第一类边界条件 热传导 工程求解
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 所属期刊栏目: 光电测量
• 页码范围: 18-21
• 分类号: TN248.4
• 语种: 中文

摘要

半导体制冷技术作为一种高效的温控措施在许多精密温控领域得到了推广应用.国内外早有针对半导体制冷器的众多研究,但大多将半导体的内热源简化为均匀热源.为了剔除上述简化带来的分析误差,遵循焦耳热为半导体内非均匀内热源这一事实,提出了一种基于分离叠加原则的工程求解方法.首先构建线性常微分方程的分析模型,符合分离叠加原理,其次分别讨论各种边界条件下的热流量和温度场分布,最后,基于传热学第一类边界条件,通过叠加方法得到半导体内热流量和温度场的稳态分布,并取方程特征解验证了上述方法的可行性.