一种新型NAND flash的寿命测试方法

• 作者: 张朝锋
• 来源期刊: 集成电路应用
• 学科: 工学
• 关键词: NAND flash 快速测试 寿命测试
• 年，卷（期）: 2016,（7）
• 所属期刊栏目: 工艺与制造
• 页码范围: 38-40
• 页数: 3页
• 分类号: TN406
• 字数: 1628字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19339/j.issn.1674-2583.2016.07.008

摘要

在NAND flash测试中,需要对其使用寿命进行监控和测试,以便有效筛选出不合格产品,避免在后续封装以及使用过程中造成不必要的经济损失.关于NAND flash的寿命测试,即检查NAND flash能承受的最大编程/擦除次数,目前常规使用的编程以及擦除的方法需要很长测试时间,提高了测试成本.提出一种测试NAND flash寿命的快速测试方法,将寿命测试时间由原来的1.5h减小到0.13h,节约91％的寿命测试时间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张朝锋	上海交通大学微纳电子系	2	11	2.0	2.0