红外热像技术在劣化悬式瓷绝缘子检测中的应用

• 作者: 于金 余接永 吴政国 李唐兵 杨若斌 王爱凤
• 来源期刊: 江西电力
• 学科: 工学
• 关键词: 悬式瓷绝缘子 劣化 低值 零值 带电检测 红外热像
• 年，卷（期）: 2016,（6）
• 所属期刊栏目: 电网设备带电检测专栏
• 页码范围: 49-51,58
• 页数: 4页
• 分类号: TM855
• 字数: 2395字
• 语种: 中文

摘要

在机械负荷、雷击及环境温湿度等因素的长期作用下,悬式瓷绝缘子机械强度和电气绝缘性能会逐渐下降,甚至丧失,严重威胁电力系统安全稳定运行.利用红外热像技术对悬式瓷绝缘子较易出现的发热缺陷进行了检测,结果表明红外热像技术是检测悬式瓷绝缘子发热缺陷的快速、有效方法,能够及时消除绝缘子缺陷,提高检修效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李唐兵		13	47	3.0	6.0
2	于金		3	3	1.0	1.0
3	杨若斌		3	16	3.0	3.0
4	王爱凤		1	3	1.0	1.0
5	余接永		2	3	1.0	1.0
6	吴政国		1	3	1.0	1.0