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摘要:
采用直流X射线连续能谱照射晶体,以极小的步进角,测量一定角度范围内,不同入射角度下的衍射能谱,通过提取各个角度衍射能谱中同一能量X射线的衍射强度,微分得到该能量的平晶摇摆曲线.与传统测量方法相比,该方法具有更大的X射线能量测量范围,可通过一次角度扫描,同时给出多个能量的摇摆曲线.利用该方法开展了16~21 keV区间内LiF(200)平晶摇摆曲线的相对强度标定,结果表明,晶体摇摆曲线的半高宽随X射线能量增加而缓慢减小,而峰值强度随X射线能量增加则缓慢增加,在入射能谱强度变化较大区间内,该方法测量结果的不确定度较大.
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文献信息
篇名 基于直流X射线连续能谱的平晶摇摆曲线测量方法
来源期刊 现代应用物理 学科 工学
关键词 摇摆曲线 衍射能谱 相对强度 连续谱X射线
年,卷(期) 2016,(3) 所属期刊栏目 核物理、粒子物理、射线束与探测技术
研究方向 页码范围 1-5,39
页数 6页 分类号 TL99
字数 2598字 语种 中文
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