一种基于Scanchain的Block RAM的MBIST设计方法

• 作者: 丛红艳 张艳飞 胡凯 闫华
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: MarchC+算法 BIST电路 故障定位
• 年，卷（期）: 2016,（4）
• 所属期刊栏目: 电路设计
• 页码范围: 21-23,28
• 页数: 4页
• 分类号: TN402
• 字数: 1463字
• 语种: 中文

摘要

基于March C+算法,设计了一种基于Scan chain的Block RAM为测试对象的串/并行BIST电路.在电路内部自身生成测试向量,不需要外部施加激励,并依靠自身决定得到测试结果是否正确.该电路既可以有效对Block RAM进行准确校验和故障定位,又不会因BIST测试增加PAD的数量.最后,对设计方法结果进行了仿真验证.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	闫华		7	13	2.0	3.0
2	丛红艳		2	3	1.0	1.0
3	张艳飞		3	3	1.0	1.0
4	胡凯		1	2	1.0	1.0