252 Cf中子源辐照钚部件安全性评估

• 作者: 宋天莉 李虹轶 林源根 许伟 郭春营
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 252 Cf中子源 诱发裂变 衰变热 有效剂量 安全性
• 年，卷（期）: 2016,（8）
• 页码范围: 825-829
• 页数: 5页
• 分类号: TL99
• 字数: 2573字
• 语种: 中文

摘要

在分析252 Cf中子源辐照钚部件产热机理基础上，应用 MC法计算了钚部件裂变热功率以及252 Cf源γ射线能量沉积热功率；建立理论模型，计算了钚部件冷却过程中衰变热。相比自发衰变热功率，典型中子源强照射下钚部件的热效应并不严重。利用缓发γ能谱近似模型，计算了拟人体外照射剂量。与国际放射防护委员会( ICRP)建议值相比，典型中子源强照射下操作人员接受的辐射剂量在安全范围内。