外推法天线增益测量系统的暗室反射影响评估

• 作者: David Gentle 刘潇
• 来源期刊: 电波科学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 外推法 天线增益 吸波材料反射率 不确定度评定
• 年，卷（期）: 2016,（5）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 1004-1008
• 页数: 5页
• 分类号: TN015
• 字数: 2952字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13443/j.cjors.2015112301

摘要

介绍了外推法技术,在此基础上提出一种基于几何光学的吸波材料影响评估方法。该方法可以在数字滤波后有效模拟并引入反射信号,通过比较两次外推后的数据,得到对增益测量的影响评估结果。在中国计量科学研究院(National Institute of Metrology,NIM)的外推法装置中进行实验验证,结果表明：该方法可以有效模拟吸波材料的影响,并给出由吸波材料引入的增益测量不确定度分量。该方法目前已应用到NIM 和英国国家物理研究院(National Physical Laboratory,NPL)的外推法测量结果评定中,不仅对于外推法,对于在暗室中进行的其他天线测量结果的评估也具有很好的参考价值。