基于V93000ATE的MTL生成功能码的方法

• 作者: 李锴 王征宇 赵桦
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 测试技术 ATE MTL 功能码
• 年，卷（期）: 2016,（4）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 18-20,33
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 1286字
• 语种: 中文

摘要

随着信息科学和产业的发展,集成电路为人们广泛应用.在今天的超大规模集成电路特别是在系统芯片SOC设计中,将大量存储器嵌入在片中的设计方法已经非常普遍.存储器的测试是集成电路测试一个十分重要的内容.V93000集成电路测试系统是一款可扩展型平台,它集合了数字测试、模拟测试和射频测量等资源.可针对各种高集成度的电子产品组件进行晶圆测试(Wafer Sort)及终程测试(Final Test).就利用V93000测试系统(ATE)的MTL工具产生存储器功能测试码的方法进行阐述,分析了与传统生成功能码方式相比,MTL具备灵活、占内存小、实现方便等特点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵桦		6	14	3.0	3.0
2	王征宇		8	30	3.0	5.0
3	李锴		1	3	1.0	1.0