圆片测试中的熔丝修调方法研究

• 作者: 李杰 赵影 高剑
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 混合信号电路 修调 熔丝 圆片测试
• 年，卷（期）: 2016,（6）
• 所属期刊栏目: 【研究与设计】
• 页码范围: 15-19
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 字数: 3220字
• 语种: 中文

摘要

熔丝修调因工艺简单、速度快，被广泛用于混合信号电路芯片的圆片测试中，但其类型多样，控制电路繁琐，修调受电阻变化的影响且不可恢复，因此精度不易控制，测试效率低。针对此问题，提出一种对串行、并行结构通用的测试系统修调控制电路，展示了减小测试误差的计算方法，最后，改进了传统测试流程，提出了以合并测试步骤及并行测试为基础的简化方法。测试结果表明，该方法操作性强，能够有效提高测试效率和准确率。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高剑	北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室	16	58	5.0	7.0
2	李杰	北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室	8	28	2.0	5.0
3	赵影	北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室	2	4	1.0	2.0