宇航元器件在轨测试研究

• 作者: 宋国栋 蔡洁明 陈嘉鹏 黄旭东
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 宇航元器件 在轨测试 抗辐射
• 年，卷（期）: 2016,（4）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 13-17
• 页数: 5页
• 分类号: V443|TN306
• 字数: 4413字
• 语种: 中文

摘要

对国内宇航元器件应用现状进行调查研究,阐述了宇航元器件进行在轨测试的必要性.对宇航元器件在轨测试的方法进行探讨,列举了目前常用的在轨测试方法.重点对宇航元器件进行在轨测试参数选择,对实施方案进行分析,同时对航天元器件在轨参数进行了研究.随着航天事业不断发展,宇航元器件在轨测试将会得到更多的关注和应用,将为实现宇航元器件的自主发展打下基础.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宋国栋		6	3	1.0	1.0
2	蔡洁明		8	15	3.0	3.0
3	黄旭东		4	5	1.0	2.0
4	陈嘉鹏		6	1	1.0	1.0