基于压电阻抗法的结构损伤检测技术进展

• 作者: 张玉祥 张鑫 李知佳 陈家照
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: 损伤检测 压电阻抗 脱粘
• 年，卷（期）: 2016,（1）
• 所属期刊栏目: 实践经验
• 页码范围: 69-74
• 页数: 6页
• 分类号: TG115.28
• 字数: 5032字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11973/wsjc201601019

摘要

为了实现结构损伤的快速在线检测，研究基于压电阻抗(EMI)法的无损检测技术十分必要。总结了国内外在 EMI 方面的研究进展，全面概括了应用 EMI 的单位和个人在此方面取得的成果，并介绍了基于 EMI 检测损伤的经验及成熟度，对后续开展基于 EMI 的结构检测具有指导意义。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈家照		15	40	5.0	5.0
2	张玉祥		19	124	7.0	11.0
3	张鑫		7	26	3.0	5.0
4	李知佳		1	7	1.0	1.0