基于测试系统控制示波器实现模拟信号测试方法

• 作者: 杜元勋
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 测试系统 示波器 GPIB接口
• 年，卷（期）: 2016,（4）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 9-12
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 1750字
• 语种: 中文

摘要

现在的集成电路测试系统虽然具备较高的技术指标,但仍然有一些数字、模拟和数模混合电路的参数指标超出其测试能力范围.在新品验证阶段要实现功能与参数的全覆盖测试,难度大而且成本高.通过测试系统与仪器仪表相结合的方式来实现功能与参数的测试验证是一种比较好的解决方法.主要介绍如何使用TR6800测试系统通过GPIB接口控制示波器来实现VCO器件参数测试的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜元勋		6	3	1.0	1.0