X射线散射光子对剂量当量电离室影响

• 作者: 余继利 吴金杰 周振杰 廖振宇 葛良全 赵瑞
• 来源期刊: 计量学报
• 学科: 工学
• 关键词: 计量学 电离辐射 影锥屏蔽 散射光子 电离室
• 年，卷（期）: 2016,（z1）
• 所属期刊栏目: 电离辐射计量
• 页码范围: 11-14
• 页数: 4页
• 分类号: TB98
• 字数: 3295字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2016.z1.03

摘要

为了测量X射线辐射散射光子对剂量当量电离室的影响,根据ISO-4037建立X射线防护水平参考辐射场.采用PTW-32002 1L和PTW-32003 10L两个不同体积的球形空腔电离室在不同辐射质条件下通过影锥屏蔽法测量散射光子对不同电离室的影响程度.实验结果表明:散射光子对不同体积电离室影响程度不同,对于10 L球形电离室散射份额在2％左右,而对于1L球形电离室散射份额在4％左右.能量越高,散射光子的散射份额也会相对增大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴金杰		68	186	7.0	9.0
2	葛良全		335	1967	19.0	25.0
3	赵瑞		23	90	5.0	9.0
5	余继利		8	17	3.0	4.0
9	廖振宇		8	19	3.0	3.0
13	周振杰		9	9	2.0	2.0