基于任意环境下的动态测试系统设计

• 作者: 于东阳 王禹辉
• 来源期刊: 微处理机
• 学科: 工学
• 关键词: 测试 环境 程序 单片机 上位机 下位机
• 年，卷（期）: 2016,（3）
• 所属期刊栏目: 大规模集成电路设计、制造与应用
• 页码范围: 10-12,16
• 页数: 4页
• 分类号: TN40
• 字数: 2176字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-2279.2016.03.003

摘要

芯片广泛应用于计算机、办公自动化设备、工业仪器仪表、航天等领域,涉及到国民经济各行各业.芯片的工作稳定受到越来越多的关注,而使用之前的测试是保证芯片可靠的重要环节.以动态测试方法为例,扼要介绍芯片在任意环境下的测试方法,并解析测试过程中的注意事项,为芯片的动态测试提供了较为全面的借鉴.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王禹辉	中国电子科技集团公司第四十七研究所	2	1	1.0	1.0
2	于东阳	中国电子科技集团公司第四十七研究所	3	39	2.0	3.0