偏心度对C型环淬火和深冷处理组织和应力演变影响的数值研究

• 作者: 封源 杨卫东 王沛莹 章军 黎军顽
• 来源期刊: 上海金属
• 关键词: 偏心度 C型环 深冷处理 残留奥氏体 残余应力 数值模拟
• 年，卷（期）: 2016,（3）
• 所属期刊栏目: 金属材料及其应用
• 页码范围: 15-20
• 页数: 6页
• 字数: 3030字
• 语种: 中文

摘要

建立了不同偏心度C型环试样淬火和深冷处理过程的数值模型,探讨了偏心度对C型环试样淬火和深冷处理过程中组织和应力演变的影响.研究表明,在淬火过程中,偏心度越大,试样中残留奥氏体组织分布的不均匀性越明显.深冷处理后,试样中奥氏体分布的不均匀性得到显著改善,偏心度越小,改善效果越明显.深冷处理使试样中残留奥氏体含量减少了约14％.随着偏心度的减小,试样应力演变曲线上的应力峰值发生变化,影响应力峰值的主导因素由热应力转变为相变应力.相比淬火过程,深冷处理过程中的应力演变要平缓得多.无论是淬火还是深冷处理,试样的偏心度越小,其残余应力的分布越均匀.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨卫东	浙江医药高等专科学校医疗器械学院	10	18	2.0	4.0
2	黎军顽	上海大学材料科学与工程学院	21	51	4.0	6.0
3	章军	上海大学材料科学与工程学院	3	0	0.0	0.0
4	封源	上海大学材料科学与工程学院	4	3	1.0	1.0
5	王沛莹	上海大学材料科学与工程学院	3	0	0.0	0.0