基于硅漂移探测器的X射线粉末衍射仪探测记录系统的研究

• 作者: 徐晓明 苗伟 陶琨
• 来源期刊: 真空科学与技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: X射线粉末衍射仪 探测和记录系统 衍射强度 能量分辨率
• 年，卷（期）: 2016,（5）
• 所属期刊栏目: 工艺设备
• 页码范围: 578-581
• 分类号: TG115.22+5
• 语种: 中文
• DOI: 10.13922/j.cnki.cjovst.2016.05.16

摘要

研究了提高X射线衍射强度的方法,将硅漂移探测器(SDD)集成在X射线粉末衍射仪的探测记录系统中,发展出一种新的X射线粉末衍射线的高效探测与记录系统,它包括SDD探测器、单道脉冲分析器和计数电路等部分.测试结果表明,探测记录系统能量分辨率高,可以省去石墨单色器,与常规配备石墨单色器+闪烁/正比探测器的衍射仪相比,衍射强度可提高三到四倍.同时,此探测记录系统可排除样品中荧光元素的干扰,且可用于阵列探测器“阵列”效应失效的测试(如极图、In-Plane分析等).新系统可提升薄膜材料和凝聚态微纳结构分析的水平.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陶琨	清华大学材料科学与工程研究院中心实验室	11	51	4.0	7.0
2	徐晓明	清华大学材料科学与工程研究院中心实验室	6	5	1.0	2.0
3	苗伟	清华大学材料科学与工程研究院中心实验室	8	25	3.0	5.0