膜片开关银浆固化后变色失效分析

• 作者: 幸七四 李文琳 李章炜
• 来源期刊: 贵金属
• 学科: 工学
• 关键词: 金属材料 膜片开关 银浆 银线变色断线 失效
• 年，卷（期）: 2016,（z1）
• 所属期刊栏目: 贵金属电子浆料
• 页码范围: 54-57
• 页数: 4页
• 分类号: TG146.3+3
• 字数: 1276字
• 语种: 中文

摘要

针对膜片开关银浆固化后偶尔出现的银线变色断线现象进行分析。通过电镜观察，推测失效原因在于膜片开关生产封装过程中引入的有机物污染腐蚀银线路，从而出现银线变色断线，导致线路失效。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李文琳	贵研铂业股份有限公司稀贵金属综合利用新技术国家重点实验室	9	41	4.0	6.0
2	李章炜	贵研铂业股份有限公司稀贵金属综合利用新技术国家重点实验室	5	13	1.0	3.0
3	幸七四	贵研铂业股份有限公司稀贵金属综合利用新技术国家重点实验室	5	13	1.0	3.0