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摘要:
退化数据在小子样、高可靠、长寿命产品可靠性评估中的作用日益突显。针对工程实践中多阶段可校正电子装备可靠性评估难题,综合考虑任务的多阶段性和校正行为影响,建立了基于 Wiener 过程的性能退化模型,采用贝叶斯方法得到退化模型中漂移参数的后验分布估计,构建了光滑函数解决系统校正行为导致的函数不连续性问题,在此基础上根据首次到达时的概率分布提出了多阶段可校正系统的可靠性评估方法,给出相关数值算例,验证了模型、方法和分析结果的正确性和实用性。
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文献信息
篇名 多阶段可校正系统退化建模与可靠性评估
来源期刊 系统工程与电子技术 学科 工学
关键词 可靠性评估 退化建模 校正 贝叶斯 多阶段
年,卷(期) 2016,(4) 所属期刊栏目 可靠性
研究方向 页码范围 965-969
页数 5页 分类号 TB114.3
字数 4346字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-506X.2016.04.35
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 崔利荣 北京理工大学管理与经济学院 45 216 7.0 12.0
2 黄金波 北京理工大学管理与经济学院 3 4 1.0 1.0
4 孔德景 北京理工大学管理与经济学院 2 4 1.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
可靠性评估
退化建模
校正
贝叶斯
多阶段
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期刊影响力
系统工程与电子技术
月刊
1001-506X
11-2422/TN
16开
北京142信箱32分箱
82-269
1979
chi
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