超低副瓣天线测试中探头方向图的研究

• 作者: 王涵 陈玉林
• 来源期刊: 空间电子技术
• 关键词: 超低副瓣 平面近场测试 E面电场法 近远场变换 边缘电流逼近法 混合算法 探头补偿
• 年，卷（期）: 2016,（4）
• 所属期刊栏目: 空间天线
• 页码范围: 27-30,34
• 页数: 5页
• 字数: 2703字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-7135.2016.04.006

摘要

针对目前带探头补偿的平面近远场变换中,探头H面方向图对远区副瓣引入较大误差的情况,结合国内传统的E面电场法和K.T.Selvan提出的边缘电流逼近法各自的优点,利用混合算法研究了一种新的探头方向图逼近公式,并将其应用于平面近场测试中.通过在某大型微波暗室对一频段阵列天线进行实际测量,分别用E面电场法、边缘电流逼近法以及新的方法进行带探头补偿的近远场变换.最后,将各种方法与实际测试结果进行比较,求得其误差曲线,并在全域的角度分析各种方法的-50 dB超低副瓣精度.结果表明,此方法集合了前两种方法的优点,相比E面电场法,远区副瓣精度提高了8.2 dB,整个角域内副瓣精度提高了1.13 dB;相比边缘电流逼近法,近区副瓣精度提高了0.89dB,整个角域内副瓣精度提高了0.87dB.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王涵		9	4	1.0	1.0
2	陈玉林		4	1	1.0	1.0