X荧光能谱方法快速分析钛合金中钼元素

• 作者: 刘平 孙金龙 田禾
• 来源期刊: 现代科学仪器
• 学科: 化学
• 关键词: 钼元素 X荧光能谱 钛合金 小波变换
• 年，卷（期）: 2016,（3）
• 所属期刊栏目: 分析测试技术与方法
• 页码范围: 55-58
• 分类号: O657.31
• 语种: 中文

摘要

分析研究了钛合金的能量色散x射线荧光光谱,使用XRF-6型x射线荧光能谱仪对钛合金中钼元素进行了测定分析,结果表明X射线荧光能谱可有效的解决钛合金中钼元素的快速分析问题.钼元素的Kα特征射线能量值为17.443keV,Kβ特征射线能量值为19.633keV,通过与基体钛元素特征射线能量值的对比可以实现钛合金中钼元素的快速定性及定量分析.钼元素的Kα特征峰(17.443keV)与锆元素的K β峰(17.687keV)几乎重叠,利用小波变换技术可以有效地解决能谱峰重叠和定量分析问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘平		88	415	10.0	16.0
2	田禾		15	27	3.0	4.0
3	孙金龙		16	27	3.0	4.0