利用X射线探伤测量缺陷埋藏深度方法的探讨

• 作者: 张树海 杨树胜 茹宝宁
• 来源期刊: 中国钛业
• 学科: 工学
• 关键词: X射线 缺陷 埋藏深度 二次曝光
• 年，卷（期）: zgzyb_2016,（3）
• 页码范围: 30-32
• 页数: 3页
• 分类号: TG441.7

摘要

特种设备产品在制造过程中,焊接是一种必不可少的手段,在焊接过程中难免会产生缺陷,在X射线检测中,由于无法准确判定缺陷在工件中的埋藏深度,从而影响修补效果,尤其是一些高、精、尖、厚度较大、材料特殊的产品,修补次数越多对材料性能影响越大,为保证修补效果,减少修补次数,需要对缺陷的埋藏深度进行定位,经过实践摸索,利用X射线二次曝光法确定缺陷在工件中的埋藏深度,与实际测量吻合较好。采用二次曝光法确定缺陷埋藏深度,可减少挖补量,保证修补效果,提高工作效率,经济效益显著。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨树胜		1	0	0.0	0.0
2	茹宝宁		1	0	0.0	0.0
3	张树海		1	0	0.0	0.0