纳米尺度水薄膜液-气相变分子动力学模拟

• 作者: 孙童童 李倩倩 黄正兴
• 来源期刊: 大连理工大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 液膜厚度 液-气相变 分子动力学模拟
• 年，卷（期）: 2016,（3）
• 页码范围: 230-235
• 页数: 6页
• 分类号: TK124
• 字数: 3502字
• 语种: 中文
• DOI: 10.7511/dllgxb201603002

摘要

采用分子动力学模拟，研究了纳米尺度水薄膜厚度和系统温度对液‐气相变蒸发率的影响。模拟了水薄膜厚度为2 nm时，温度（375～425 K ）对相变蒸发率的影响；同时模拟了温度400 K条件下，水薄膜厚度（2、3、4 nm ）对相变蒸发率的影响。结果表明：相同水薄膜厚度下蒸发率随着温度的升高而增大，相同温度下蒸发率随水薄膜厚度的增大而增大，蒸发率随时间呈指数形式递减。相关结果可为微热管及其他依靠内部液体相变传热的散热器件设计提供参考。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄正兴	大连理工大学电子科学与技术学院	14	68	4.0	8.0
2	孙童童	大连理工大学电子科学与技术学院	1	1	1.0	1.0
3	李倩倩	大连理工大学电子科学与技术学院	1	1	1.0	1.0