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破坏性试验能力验证方法研究
破坏性试验能力验证方法研究
作者:
杨城
王伯淳
谭晨
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
能力验证
校准
破坏性试验
摘要:
能力验证是利用实验室间比对,按照预先制定的准则评价参加者的能力,即利用实验室/机构间结果的比对来判定实验室/机构在制定业务范围内校准、检测或测试的能力.过去很多人认为破坏性试验不能进行能力验证试验.以电子元器件破坏性物理分析(DPA)试验时进行的破坏性键合强度试验的能力验证方案为例,开展破坏性试验能力验证方法研究,为往后在实验室间进行破坏性试验的能力验证活动提供一定的参考.
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内容分析
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文献信息
篇名
破坏性试验能力验证方法研究
来源期刊
电子与封装
学科
工学
关键词
能力验证
校准
破坏性试验
年,卷(期)
2016,(8)
所属期刊栏目
封装、组装与测试
研究方向
页码范围
5-8
页数
4页
分类号
TN306
字数
2968字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
王伯淳
湖北航天技术研究院计量测试技术研究所
6
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1.0
2
杨城
湖北航天技术研究院计量测试技术研究所
8
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节点文献
能力验证
校准
破坏性试验
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
主办单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1681-1070
CN:
32-1709/TN
开本:
大16开
出版地:
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
邮发代号:
创刊时间:
2002
语种:
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
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