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摘要:
对电子封装用硅铝合金焊接材料的裂纹产生机理进行简要的分析.针对其焊接后极易开裂的现象,通过对硅铝合金的激光焊接工艺参数和焊接结构进行优化,获得漏率R1小于5×10-9 pa.m3/s(He)的封装器件.气密性成品率高于95%,且通过按GJB548B-2005方法1010.1条件B的100次温循等可靠性试验.
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文献信息
篇名 电子封装用硅铝合金激光气密焊接研究
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 硅铝合金 气密封装 激光焊接
年,卷(期) 2016,(8) 所属期刊栏目 封装、组装与测试
研究方向 页码范围 1-4
页数 4页 分类号 TN305.94
字数 3223字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 程凯 10 22 3.0 4.0
2 徐骁 1 6 1.0 1.0
3 刘艳 1 6 1.0 1.0
4 陈洁民 1 6 1.0 1.0
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电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
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