微波晶体管满功率老炼技术研究

• 作者: 张利敏 李雪 王小萍 秦皓
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 微波管 壳温 电老炼 导热硅胶
• 年，卷（期）: 2016,（10）
• 所属期刊栏目: 微电子制造与可靠性
• 页码范围: 43-47
• 页数: 5页
• 分类号: TN306
• 字数: 3877字
• 语种: 中文

摘要

对35 micro-x封装的微波晶体管防自激老化电路的各部分功能进行了详细介绍,讨论了如何判定管子是否处于稳定工作状态的方法.通过在测试间里搭建老化电路,模拟实际老炼状态,使用红外热像仪测试壳温的方法,比较了不同散热条件下的壳温测试数据,得出了管子的壳温以及管帽和管底之间的温度差.试验证明:在管底使用铝块和导热硅胶相结合散热的方法,能解决35 micro-x封装形式的低结温晶体管老化过程中的结温控制问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李雪		9	16	3.0	3.0
2	张利敏		2	4	1.0	2.0
3	王小萍		2	4	1.0	2.0
4	秦皓		1	0	0.0	0.0