离子色谱法检测高纯硅微粉中痕量铁和氧化铁杂质

• 作者: 李仁勇 李春林 李超 罗进 赵海能 赵炯 郑洪国
• 来源期刊: 色谱
• 学科: 化学
• 关键词: 离子色谱法 柱后衍生 铁 氧化铁 硅微粉
• 年，卷（期）: 2016,（10）
• 所属期刊栏目: 特别策划:离子态化合物色谱分析专栏
• 页码范围: 976-981
• 页数: 6页
• 分类号: O658
• 字数: 5512字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3724/SP.J.1123.2016.06047

摘要

建立了柱后衍生-紫外检测-离子色谱法同时测定高纯硅微粉中痕量铁和氧化铁杂质含量的方法.方法选用具有阴阳离子交换基团的高选择性Thermo Scientific DionexTM IonPacTM CS5A色谱柱,选择与铁形成单一络合形态、中等络合能力的2,6-吡啶二羧酸(PDCA)为淋洗液,在线柱后添加普适性的4-2-吡啶偶氮苯二酚(PAR)金属显色剂,于530 nm波长下准确完成了二价和三价铁离子的分离测定.结果表明,本方法对二价铁离子和三价铁离子的检出限分别为0.013 mg/kg和0.006 mg/kg,线性相关系数r2均大于0.999,实际样品中二价铁和三价铁的加标回收率分别为79％ ～ 90％和92％～105％,具有较高的灵敏度、准确度和选择性.该方法可以准确测定高纯硅微粉中痕量二价铁和三价铁的含量,以此结果反馈高纯硅微粉产品中铁杂质含量的不同来源,为其生产工艺的持续优化和改进提供重要的参考数据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑洪国		9	12	3.0	3.0
2	李仁勇		17	63	4.0	7.0
3	罗进		4	14	2.0	3.0
7	赵海能		1	4	1.0	1.0
8	李超		1	4	1.0	1.0
9	赵炯		1	4	1.0	1.0