复杂数字电路中的单粒子效应建模综述

• 作者: 刘杰 吴驰 毕津顺 滕瑞 罗家俊 解冰清 郭刚 韩郑生
• 来源期刊: 微电子学
• 学科: 工学
• 关键词: 单粒子瞬态效应 单粒子翻转效应 软错误率 掩蔽效应
• 年，卷（期）: 2016,（1）
• 所属期刊栏目: 模型与算法
• 页码范围: 117-123,127
• 分类号: TN406
• 语种: 中文

摘要

单粒子效应产生的软错误是影响航天电子系统可靠性的主要因素之一.对其进行建模是研究单粒子效应机理和电路加固技术的有效方法.介绍了深亚微米及以下工艺中影响模型准确性的几种效应机制,包括脉冲展宽机制、电荷共享机制和重汇聚机制等.重点分析了单粒子瞬态、单粒子翻转的产生模型和单粒子瞬态的传播模型.阐述了基于重离子和脉冲激光的模型验证方法.最后,分析了单粒子效应随特征尺寸的变化趋势,并提出了未来单粒子效应建模技术的发展方向.