基于产品性能退化轨迹的可靠性研究

• 作者: 刘合财
• 来源期刊: 安徽师范大学学报（自然科学版）
• 学科: 数学
• 关键词: 退化轨迹 首达时间 失效标准 可靠性
• 年，卷（期）: 2016,（4）
• 所属期刊栏目: 数学与计算机科学
• 页码范围: 320-323,330
• 页数: 5页
• 分类号: O213.2
• 字数: 4196字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14182/J.cnki.1001-2443.2016.04.003

摘要

为了解决高可靠和长寿命产品的可靠性评估问题,采用性能退化试验方法,基于产品性能退化量的退化轨迹,得出了线性、指数型性能退化轨迹绝对失效标准和相对失效标准下的首达时间分布定理,并分别得到了随机参数服从正态、Weibull和指数分布下的几个推论.研究结果表明:根据产品性能退化随机过程和退化轨迹、失效标准计算首达时间来评估其可靠性是一条有效的途径.该成果对产品的可靠度等指标的评估具有一定的参考价值和实际意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘合财	贵阳学院数学与信息科学学院	20	59	4.0	6.0