碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管短路特性

• 作者: 彭志高 李宗鉴 江希 沈征 王俊 王小浩
• 来源期刊: 电源学报
• 学科: 工学
• 关键词: 短路测试 短路电流 短路能力
• 年，卷（期）: 2016,（6）
• 所属期刊栏目: 电力电子功率器件及系统可靠性专辑
• 页码范围: 53-57
• 页数: 5页
• 分类号: TN386
• 字数: 2309字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13234/j.issn.2095-2805.2016.6.53

摘要

器件的短路能力对整流器及其故障保护具有极其重要的意义.当器件故障运行时,为避免器件损坏,须在最短的时间内将故障予以切除,而此时器件的最大短路运行时间为系统保护装置提供了有力的时间支持.主要研究了碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)在短路条件下的运行能力,以Cree公司的1200 V/19 A SiC MOSFET为模型,设计了硬件电路,测试其不同电压等级下的短路电流;并在直流电压等级为600 V的条件下,测试了不同栅极电压、不同温度工况下的短路电流.研究结果表明器件的短路峰值电流随着栅极电压的升高而增大,而其短路运行时间却大幅降低;温度对短路运行时间的影响则相对不甚明显;同时还给出了器件在不同工况下的最大短路运行时间Tsc(max).

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈征	湖南大学电气与信息工程学院	17	104	5.0	9.0
2	王俊	湖南大学电气与信息工程学院	14	16	3.0	3.0
3	李宗鉴	湖南大学电气与信息工程学院	5	3	1.0	1.0
4	江希	湖南大学电气与信息工程学院	4	3	1.0	1.0
5	王小浩	湖南大学电气与信息工程学院	1	3	1.0	1.0
6	彭志高	湖南大学电气与信息工程学院	1	3	1.0	1.0