硅漂移探测器用于X射线标识谱与吸收实验

• 作者: 冉书能 吴思诚 贾春燕
• 来源期刊: 物理实验
• 学科: 物理学
• 关键词: 硅漂移探测器 X射线标识谱 屏蔽系数 能量分辨率
• 年，卷（期）: 2016,（10）
• 所属期刊栏目: 近代与综合实验
• 页码范围: 8-10
• 页数: 3页
• 分类号: O562.31
• 字数: 1399字
• 语种: 中文

摘要

利用硅漂移探测器测量不同元素的标识X射线，验证莫塞莱定律，计算屏蔽系数并解释其变化规律。利用不同厚度的镍吸收片做铜的标识X射线吸收，结果表明：单色化铜的标识X射线所需镍片的最佳厚度约为20μm 。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴思诚	北京大学物理学院	3	12	2.0	3.0
2	冉书能	北京大学物理学院	4	11	2.0	3.0
3	贾春燕	北京大学物理学院	4	10	2.0	3.0