高温超导长带缓冲层的缺陷分析

• 作者: 寇秀蓉 桑洪波 熊旭明 王延恺
• 来源期刊: 低温与超导
• 关键词: 高温超导带材 缺陷分析 SEM EDS
• 年，卷（期）: 2016,（10）
• 所属期刊栏目: 超导技术
• 页码范围: 33-36,66
• 页数: 5页
• 语种: 中文
• DOI: 10.16711/j.1001-7100.2016.10.007

摘要

实现二代高温超导产业化的关键之一是提高良率.作者在实践中发现,影响带材良率的一个重要因素是存在于带材上的缺陷.对二代高温超导带材中缺陷的研究应该是个一个重要的课题,但是还没有见到过有关的报道,该文对带材中大量出现的典型缺陷进行SEM和EDS分析发现,发现缺陷处有大量C元素,且该C元素存在于抛光基带和缓冲隔离层之间的界面上.由此,推测缺陷产生的根源是抛光带表面的有机物污染,并得到了证实.据此,在抛光工艺中的过滤系统得到了改进,最终良率得到了提高.同时,作者认为,使用SEM-EDS对缺陷进行元素分析,是二代带材开发生产中,对带材缺陷进行快速分析的一种可行方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王延恺	苏州新材料研究所有限公司	1	0	0.0	0.0
2	熊旭明	苏州新材料研究所有限公司	3	0	0.0	0.0
3	寇秀蓉	苏州新材料研究所有限公司	1	0	0.0	0.0
4	桑洪波	苏州新材料研究所有限公司	1	0	0.0	0.0