基于虚像相位阵列的光谱测量技术研究与应用

• 作者: 张磊 李红梅 谭中伟
• 来源期刊: 光电技术应用
• 学科: 物理学
• 关键词: 虚像相位阵列 光谱仪 光谱测量 光谱成像 ZEMAX
• 年，卷（期）: 2016,（6）
• 所属期刊栏目: 光电探测
• 页码范围: 10-14,61
• 页数: 6页
• 分类号: O433.1
• 字数: 2029字
• 语种: 中文

摘要

虚像相位阵列(VIPA)具有色散角度大、结构简单、成本较低等优势,对波分复用、色散补偿、脉冲整形等领域产生了重大影响.虚像相位阵列与衍射光栅结合解决了光谱混叠现象,使其在光滤波器、光谱成像、光谱处理等领域的应用成为可能.基于虚像相位阵列的光谱仪具有采集时间短、频谱测量范围宽、光谱分辨率高等优点,能应用于气体检测、分子科学、微生物学等领域,因此成为研究热点.基于ZEMAX光学软件对VIPA二维成像进行了仿真,分析了VIPA的厚度和入射角对其衍射、损耗、光谱分辨率和空间分辨率的影响,讨论了VIPA用于成像时的最佳厚度和角度,最后阐述了基于VIPA的布里渊和光频梳光谱仪,论述了不同类型光谱仪的性能和应用,并对未来进行了展望.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谭中伟	北京交通大学光波技术研究所全光网络与现代通信网教育部重点实验室	42	254	10.0	13.0
2	李红梅	北京交通大学光波技术研究所全光网络与现代通信网教育部重点实验室	16	82	6.0	9.0
3	张磊	北京交通大学光波技术研究所全光网络与现代通信网教育部重点实验室	41	132	7.0	9.0