AT ML测试资源与测试需求自动匹配方法研究

• 作者: 姜会霞 王成 范书义 魏保华
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: ATML 测试资源 测试需求 自动匹配
• 年，卷（期）: 2016,（6）
• 所属期刊栏目: 测试与故障诊断
• 页码范围: 8-11
• 页数: 4页
• 分类号: TP391
• 语种: 中文
• DOI: 10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2016.06.002

摘要

基于ATML测试描述文档自动生成测试程序过程中，关键是实现测试资源与测试需求的自动匹配；首先对ATML 测试描述文档中测试能力、测试需求、开关、端口、能力与资源的映射等基本数据元素的表示方法进行分析研究，定义了与其对应的C＋＋数据类型；然后在研究图论相关理论的基础上，分析了描述文档中测试路径的表示方法，确定了采用邻接矩阵表示测试路径的方法；最后，在以上研究的基础上，提出了以稀疏矩阵和单链表为基础的测试能力与测试需求匹配算法，实现了测试能力与测试需求的自动匹配；该算法在实际测试程序开发中得到了应用，结果表明该算法能够实现基于ATML描述文档的测试资源与测试需求自动匹配，并能极大提供测试程序开发效率。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王成		73	378	10.0	15.0
2	魏保华		34	186	7.0	12.0
3	姜会霞		22	51	4.0	6.0
4	范书义		20	77	5.0	8.0