Sandia频移法在电子负载孤岛检测中的应用研究及参数优化

• 作者: 严雪飞 侯立健 安巧静 朱长青
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电子负载 频移式 检测盲区 复合型
• 年，卷（期）: 2016,（4）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 13-17
• 页数: 5页
• 分类号: TN712
• 字数: 4085字
• 语种: 中文

摘要

以单相馈能型电子负载为研究对象,详细分析了Sandia频移式孤岛检测法(SFS)原理,描述其检测盲区,并对SFS算法中的参数进行优化.与此同时,将SFS与Sandia电压偏移法(SVS)结合,并辅助过/欠频率、过/欠电压保护,形成一种复合型的孤岛检测法.最后在MATLAB/Simulink环境下,搭建了仿真模型,仿真结果表明,参数优化后,系统可实现特定负载下的无盲区检测,将SFS和SVS结合使用明显提高检测效率,能够快速有效地进行孤岛保护,输出电能质量较高,验证了设计方案的可行性和优越性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱长青		76	472	11.0	17.0
2	安巧静		17	69	6.0	8.0
3	严雪飞		12	76	6.0	8.0
4	侯立健		7	47	5.0	6.0