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摘要:
SOI工艺因其独特的器件特性而被物联网时代所追捧.相对精准的器件模型显得愈加重要.这是在SOI器件特性和模型理论的基础上,采用PSP-SOI(PD)模型提取了一套完整的射频模型,并对模型进行了直流、交流、高频小信号以及大信号非线性等方面的一系列的验证,基本满足各项指标要求.证明了该模型在RF SOI领域的有效性.
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RF SOI CMOS技术及其应用
SOI
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内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 PSP-SOI模型在RF SOI技术中的应用
来源期刊 集成电路应用 学科 工学
关键词 PSP-SOI 部分耗尽 浮体效应 大信号 谐波验证
年,卷(期) 2016,(12) 所属期刊栏目 工艺与制造
研究方向 页码范围 41-45
页数 5页 分类号 TN403
字数 2494字 语种 中文
DOI 10.19339/j.issn.1674-2583.2016.12.010
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张昊 1 0 0.0 0.0
2 范象泉 1 0 0.0 0.0
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2016(0)
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研究主题发展历程
节点文献
PSP-SOI
部分耗尽
浮体效应
大信号
谐波验证
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
集成电路应用
月刊
1674-2583
31-1325/TN
16开
上海宜山路810号
1984
chi
出版文献量(篇)
4823
总下载数(次)
15
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