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PSP-SOI模型在RF SOI技术中的应用
PSP-SOI模型在RF SOI技术中的应用
作者:
张昊
范象泉
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
PSP-SOI
部分耗尽
浮体效应
大信号
谐波验证
摘要:
SOI工艺因其独特的器件特性而被物联网时代所追捧.相对精准的器件模型显得愈加重要.这是在SOI器件特性和模型理论的基础上,采用PSP-SOI(PD)模型提取了一套完整的射频模型,并对模型进行了直流、交流、高频小信号以及大信号非线性等方面的一系列的验证,基本满足各项指标要求.证明了该模型在RF SOI领域的有效性.
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文献信息
篇名
PSP-SOI模型在RF SOI技术中的应用
来源期刊
集成电路应用
学科
工学
关键词
PSP-SOI
部分耗尽
浮体效应
大信号
谐波验证
年,卷(期)
2016,(12)
所属期刊栏目
工艺与制造
研究方向
页码范围
41-45
页数
5页
分类号
TN403
字数
2494字
语种
中文
DOI
10.19339/j.issn.1674-2583.2016.12.010
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
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1
张昊
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范象泉
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传播情况
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2016(0)
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二级参考文献(0)
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二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
PSP-SOI
部分耗尽
浮体效应
大信号
谐波验证
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
集成电路应用
主办单位:
上海贝岭股份有限公司
出版周期:
月刊
ISSN:
1674-2583
CN:
31-1325/TN
开本:
16开
出版地:
上海宜山路810号
邮发代号:
创刊时间:
1984
语种:
chi
出版文献量(篇)
4823
总下载数(次)
15
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