含有源功率解耦的单相H桥逆变器综合可靠性评估

• 作者: 唐君超杰 朱国荣 王怀 王浩然 马思源
• 来源期刊: 电源学报
• 学科: 工学
• 关键词: H桥逆变器 热应力 寿命预测 可靠性评估
• 年，卷（期）: 2016,（6）
• 所属期刊栏目: 电力电子功率器件及系统可靠性专辑
• 页码范围: 10-16
• 页数: 7页
• 分类号: TM133
• 字数: 3323字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13234/j.issn.2095-2805.2016.6.10

摘要

为抑制单相H桥变换器系统中直流侧低频纹波,近年来出现了许多功率解耦方法减小或消除DC-Link电容,延长DC-Link寿命,提高其可靠性.然而,由于有源功率解耦引入了额外器件,且原有器件的应力也有所改变,因此,有必要对变换器级的可靠性进行综合评估.基于2 kW的单相H桥逆变器,通过器件级的电-热应力模型、寿命模型、Weibull分布得到器件级可靠性,并基于器件级可靠性,通过可靠性框图(RBD)得到变换器级可靠性,与传统无源解耦逆变器相比较,综合评估带两种不同有源功率解耦的单相H桥逆变器可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱国荣	武汉理工大学自动化学院	21	78	5.0	8.0
2	王浩然	奥尔堡大学能源技术学院	2	5	1.0	2.0
3	马思源	武汉理工大学自动化学院	2	7	2.0	2.0
4	王怀	奥尔堡大学能源技术学院	2	6	1.0	2.0
5	唐君超杰	武汉理工大学自动化学院	1	5	1.0	1.0