基于加速退化试验的光纤陀螺组件寿命评估

• 作者: 孟祥涛 张志鑫 王颂邦 苌洪达
• 来源期刊: 导航与控制
• 学科: 交通运输
• 关键词: 光纤陀螺 加速退化 寿命评估
• 年，卷（期）: 2016,（3）
• 所属期刊栏目: 仪表与电路
• 页码范围: 50-56
• 页数: 7页
• 分类号: U666.1
• 字数: 4162字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-5558.2016.03.009

摘要

工作在宇航环境中的光纤陀螺组件会受到复杂的应力作用,而陀螺组件本身结构复杂,价格昂贵,并且可靠性高,很难通过普通的加速寿命试验评估其寿命.运用包含剩余标准化系数的退化轨迹模型,描述了光纤陀螺组件退化量与应力水平的关系,并且运用双应力步进加速退化实验的方法,得到光纤陀螺组件在温度和辐照两种应力下的退化数据.结合光纤陀螺加速寿命模型,评估该陀螺组件在宇航环境下的寿命.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张志鑫		17	95	5.0	9.0
2	孟祥涛		7	17	2.0	4.0
3	苌洪达		1	1	1.0	1.0
4	王颂邦		6	5	1.0	1.0