X射线荧光光谱法测定工业硅中十二种杂质元素

• 作者: 刘英波 杨毅 杨海岸 杨谅孚 罗舜
• 来源期刊: 云南冶金
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱法 工业硅中杂质元素 准确度 精密度
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 所属期刊栏目: 检测技术
• 页码范围: 132-136
• 页数: 5页
• 分类号: O657.34
• 字数: 3060字
• 语种: 中文

摘要

建立了X射线荧光光谱粉末压片法,可同时对工业硅样品中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴十二种元素进行定量测定.工业硅样品中加入淀粉作黏结剂,以硼酸作垫衬剂压制成样片后,在选定的仪器分析条件下进行测定,该方法检测速度快,精度高,结果准确.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨毅		20	109	6.0	9.0
2	刘英波		21	111	6.0	9.0
3	杨谅孚		11	39	3.0	5.0
4	罗舜		7	35	4.0	5.0
5	杨海岸		5	24	3.0	4.0