X 射线图像灰度值与透照厚度的定量关系

• 作者: 郭文明 陈宇亮
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: X 射线 数字成像 缺陷 灰度值 定量分析
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 所属期刊栏目: 试验研究
• 页码范围: 14-17,59
• 页数: 5页
• 分类号: TG115.28
• 字数: 3351字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11973/wsjc201602004

摘要

X 射线数字成像检测技术中，射线图像对于沿透照方向的厚度变化，表现为灰度值的变化，如何由灰度值的变化得到被检物体实际厚度的变化成为业内研究的重点。基于 Beer 定理，结合影响 X 射线机射线强度的因素和射线强度与数字图像的转换关系，推导出灰度值与透照厚度之间的定量关系；通过搭建试验平台，得到系列数据，对理论计算值和试验数据测量值进行了比对验证。结果表明：理论灰度值与实际测试相差误差不超过灰度满量程的±10％。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭文明	北京邮电大学软件学院	5	204	4.0	5.0
2	陈宇亮	北京邮电大学软件学院	1	6	1.0	1.0