加楔块相控阵S扫描检测影响因素研究

• 作者: 孙政委 安广山 齐向前
• 来源期刊: 焊管
• 关键词: 无损检测 相控阵 激发孔径 角度偏转 聚焦深度
• 年，卷（期）: 2016,（9）
• 所属期刊栏目: 应用与开发
• 页码范围: 30-33
• 页数: 4页
• 分类号: TE973.6
• 语种: 中文
• DOI: 10.19291/j.cnki.1001-3938.2016.09.007

摘要

为了提高相控阵加楔块S扫描检测结果的分辨力,针对相控阵探头激发孔径选择、 角度偏转范围设定、 聚焦深度设置、 对比试块选取等因素对相控阵加装楔块S扫描检测结果的影响进行了试验研究.结果表明,随着检测深度的增加,角度偏转范围降低,检测中的实际偏转角度应根据试验确定;为提高检测结果分辨力,应尽量对相控阵探头晶片全激发,且聚焦深度选取应根据工件中近场区的计算确定.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	安广山		2	0	0.0	0.0
2	齐向前		1	0	0.0	0.0
3	孙政委		1	0	0.0	0.0