X射线荧光光谱法测定铜钼矿石样品中的Cu、Mo

• 作者: 刘建平
• 来源期刊: 世界有色金属
• 学科: 地球科学
• 关键词: 粉末压片法 铜钼矿石 X射线荧光光谱
• 年，卷（期）: 2016,（8）
• 所属期刊栏目: 综合
• 页码范围: 157-159
• 页数: 3页
• 分类号: P575
• 语种: 中文

摘要

近几年来,随着工业的迅速发展,对工业原料的需求量越来越多.以往在制样工业原料时,多采用传统测量方法,不仅无法实现精确测量,还消耗大量试剂,给工业原料生产效益造成严重影响.现用粉末压片法制样铜钼矿石,并用X射线荧光光谱法测定其中的Cu、Mo.经过测试,发现本方法测量精密度和准确性较高,满足相关质量要求标准.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘建平		1	0	0.0	0.0