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摘要:
采用磁控溅射和光刻技术制备了1 pm×1 μm的TiN/HfO2/ITO(氧化铟锡)3层结构的器件,通过控制改变正负细丝形成(forming)电压的操作方式来研究其阻变性能.研究结果表明,在上述的两种操作模式下,当保持操作端不变时导电细丝的形成与断裂均发生在ITO端操作,且从电流-电压(I-V)循环曲线中均发现了器件具有自限流特性.同时,文中比较了氧化铟锡(ITO)和铂(Pt)两种电极下,存储器单元阻变性能的差别.结合电流-电压循环曲线的拟合机制,推断出自限流特性来源于氧化铟锡(ITO)电极与氧化铪基阻变层之间形成的界面层.进一步设计了基于氧化铟锡(ITO)电极下的氧化硅/氧化铪双层结构阻变层的器件,发现该器件仍具有自限流效应.而且,氧化硅层同样起到了降低操作电流的作用,故使得器件的功耗大幅度降低至16 μW.
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文献信息
篇名 基于ITO电极下氧化铪基阻变存储器的性能研究
来源期刊 稀有金属 学科 工学
关键词 阻变存储器 自限流特性 操作电流 ITO电极
年,卷(期) 2016,(3) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 236-242
页数 分类号 TG132.2
字数 语种 中文
DOI 10.13373/j.cnki.cjrm.2016.03.007
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王浩 湖北大学物理与电子科学学院 33 185 6.0 13.0
2 何品 湖北大学物理与电子科学学院 2 3 1.0 1.0
3 叶葱 湖北大学物理与电子科学学院 3 4 1.0 2.0
4 邓腾飞 湖北大学物理与电子科学学院 1 3 1.0 1.0
5 吴加吉 湖北大学物理与电子科学学院 1 3 1.0 1.0
6 张骏驰 湖北大学物理与电子科学学院 1 3 1.0 1.0
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研究主题发展历程
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阻变存储器
自限流特性
操作电流
ITO电极
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