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摘要:
根据大容量同步双端口SRAM(静态随机存储器)功能多、时序严格、存储单元数目巨大的特点,提出了一套用于功能复杂的大容量SRAM仿真验证的激励生成和后仿真验证方法.该方法不仅克服了Hsim仿真激励文件编写耗时、不易修改的缺点,而且解决了大容量双端口SRAM后仿真速度缓慢、占用大量硬件资源的问题,在很大程度上缩短了设计周期,保证了投片成功.芯片采用中芯国际0.13 μm CMOS工艺流片,实测结果验证了该仿真方法是准确有效的.
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ZBT
SRAM
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 大容量同步双端口SRAM的仿真方法
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 双端口同步SRAM 激励文件 层次化 关键路径
年,卷(期) 2016,(12) 所属期刊栏目 电路设计
研究方向 页码范围 35-39
页数 5页 分类号 TN402
字数 3779字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 周云波 3 6 2.0 2.0
2 李晓容 1 2 1.0 1.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
双端口同步SRAM
激励文件
层次化
关键路径
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
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