红外光谱法在SF6电气设备硅绝缘受损潜伏性故障诊断中的应用

• 作者: 张万军 杨韧 杨鼎革 汪金星 雷永乾 高超
• 来源期刊: 分析测试学报
• 学科: 农学
• 关键词: 高压绝缘设备 红外光谱分析 SF6气体分解产物 SiF4检测
• 年，卷（期）: 2016,（8）
• 所属期刊栏目: 实验技术
• 页码范围: 1058-1061
• 页数: 4页
• 分类号: O657.33|S219.033
• 字数: 3188字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-4957.2016.08.024

摘要

利用红外光谱法对SF6设备故障气体中的SiF4进行定性、定量检测,该方法的线性范围为10～ 500μL/L,检出限为l μL/L,此方法可以较理想地判断出设备内含硅元素绝缘材料的受损情况.应用于现场SF6气体绝缘开关类设备的潜伏性故障诊断,验证了分解产物SiF4对设备内部工况诊断的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	雷永乾		11	133	6.0	11.0
2	杨鼎革	国网陕西省电力公司电力科学研究院	4	2	1.0	1.0
3	杨韧	国网陕西省电力公司电力科学研究院	3	2	1.0	1.0
4	汪金星	国网陕西省电力公司电力科学研究院	2	2	1.0	1.0
5	高超	国网陕西省电力公司电力科学研究院	1	2	1.0	1.0
6	张万军	国网陕西省电力公司电力科学研究院	2	2	1.0	1.0