近红外光谱法测定HMX中α-HMX杂质晶型的含量

• 作者: 刘红妮 温晓燕 石强 胡岚 苏鹏飞 谯娟
• 来源期刊: 火炸药学报
• 关键词: 分析化学 杂质晶型 偏最小二乘法 近红外光谱技术 HMX α-HMX
• 年，卷（期）: 2016,（3）
• 页码范围: 61-65
• 页数: 5页
• 分类号: TJ55|O657.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.14077/j.issn.1007-7812.2016.03.012

摘要

为了快速检测 HMX中杂质晶型α‐HMX的含量，在制备建模样品的基础上，利用近红外光谱技术，采用偏最小二乘法建立了 HMX光谱与其α‐HMX杂质晶型含量的计算模型。讨论了建模样品的代表性、模型光谱范围的选择及模型的优化过程。结果表明，模型具有广泛代表性，最佳光谱范围为6476～6446 cm －1和4602～4424cm －1，交互验证决定系数（R2）为0．996，参考值交互验证残差均方根（RMSECV）为0．20％；外部验证的残差均方根（RMSEP）为0．27％；该法误差均小于0．13％，标准偏差为0．1％；近红外光谱法操作简单、快速、无损、绿色环保，可用于 HMX中α‐HMX杂质晶型含量的检测。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡岚		33	184	8.0	12.0
2	温晓燕		19	78	5.0	8.0
3	石强		23	68	5.0	7.0
4	刘红妮		35	135	7.0	10.0
5	苏鹏飞		26	92	5.0	8.0
6	谯娟		5	3	1.0	1.0